「側寫和記載」視景提供一些視圖用來疑難排解應用程式產生的錯誤結果。
可以使用下列視圖:
若要使用這些視圖來分析錯誤結果,請使用分析效能時所採用的相同程序來收集資料並開啟視圖。 如需詳細資訊,請參閱入門:偵測效能瓶頸。
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